温度相关试验是环境试验入门，包括高温试验、低温试验、温度变化试验。高低温试验主要验证产品在限值温度条件下是否发生变形或功能影响，是否可以正常运作。温度变化试验主要测试产品低温贮存试验：40℃,温变速率≤3℃/min,达到-40℃条件时，贮存24小时，试验后，对样品进行上电进行功能和性能测试；高温贮存试验：70℃,温变速率≤3℃/min,达到+70℃条件时，贮存48小时
(^人^) 第三方检测机构项目，高低温试验是高温试验和低温试验的的简称，试验目的是评价高低温条件对装备在存储和工作期间的性能影响。高低温测试设备主要用于对产品按高低温试验主要是模拟自然环境下的高温和低温变化，来测试产品的耐热，耐寒和耐干的性能如何，一般包括高温试验、低温试验及温湿度变化等试验。高低温试验设备主要是根据国家标准的要
高低温试验测试流程：1、在样品断电的状态下，先将温度下降到-50°C，保持4个小时；请勿在样品通电的状态下进行低温测试，非常重要，因为通电状态下，芯片本身就会产生+20°C以上温高低温试验是高温试验和低温试验的的简称，试验目的是评价高低温条件对装备在存储和工作期间的性能影响。高低温试验的试验条件、试验实施、试验步骤在GJB 150.3A
高低温箱具有较宽的温度控制范围，其性能指标均达到国家标准GB/T10592高低温试验箱技术条件，适用于按GB/T2423.1、2《电工电子产品环境试验试验A:低温试验方法，试验B:高温试验方法》对产品进产品质量不行，就不能够出厂大量使用，还有可能存在的缺陷表面看不出来，比如说芯片表面被污染、芯片不良等，这时候就需要进行高低温试验来暴露出这些问题，利用它的可靠性，这需
